X선 형광 분광계
품질기술감독국(환경지침)
RoHS/Rohs(중국)/ELF/EN71
장난감
종이, 도자기, 페인트, 금속 등
전기전자재료
반도체, 자성재료, 솔더, 전자부품 등
강철, 비철금속
합금, 귀금속, 슬래그, 광석 등
화학 산업
광물 제품, 화학 섬유, 촉매, 코팅, 도료, 화장품 등
환경
토양, 음식물, 산업폐기물, 석탄분말
기름
오일, 윤활유, 중유, 폴리머 등
다른
코팅 두께 측정, 석탄, 고고학, 재료 연구 및 법의학 등
● 세 가지 유형의 X선 방사선 안전 시스템, 소프트웨어 인터록, 하드웨어 인터록 및 기계적 인터록은 모든 작업 조건에서 방사선 누출을 완전히 제거합니다.
● XD-8010은 다양한 필터와 콜리메이터 사이를 전환할 수 있는 유연성을 유지하면서 X선 소스, 샘플 및 검출기 사이의 거리를 최소화하는 고유하게 설계된 광학 경로를 제공합니다.이것은 감도를 크게 향상시키고 검출 한계를 낮춥니다.
● 대용량 시료 챔버를 통해 손상이나 전처리 없이 대용량 시료를 직접 분석할 수 있습니다.
● 편리하고 직관적인 소프트웨어 인터페이스를 사용한 간단한 원버튼 분석.장비의 기본 작동을 수행하기 위해 전문 교육이 필요하지 않습니다.
● XD-8010은 조정 가능한 분석 시간으로 S에서 U까지 원소의 신속한 원소 분석을 제공합니다.
● 최대 15개의 필터 및 시준기 조합.다양한 두께와 재질의 필터와 Φ1mm에서 Φ7mm 범위의 콜리메이터를 사용할 수 있습니다.
● 강력한 보고서 서식 기능을 통해 자동으로 생성된 분석 보고서를 유연하게 사용자 지정할 수 있습니다.생성된 보고서는 PDF 및 Excel 형식으로 저장할 수 있습니다.분석 데이터는 각 분석 후에 자동으로 저장됩니다. 과거 데이터 및 통계는 간단한 쿼리 인터페이스에서 언제든지 액세스할 수 있습니다.
● 기기의 샘플 카메라를 사용하여 X선 소스의 초점을 기준으로 샘플의 위치를 관찰할 수 있습니다.샘플의 사진은 분석이 시작될 때 촬영되며 분석 보고서에 표시될 수 있습니다.
● 소프트웨어의 스펙트럼 비교 도구는 정성 분석과 물질 식별 및 비교에 유용합니다.
● 검증되고 효과적인 정성 및 정량 분석 방법을 사용하여 결과의 정확성을 보장할 수 있습니다.
● 개방적이고 유연한 교정 곡선 피팅 기능은 유해 물질 검출과 같은 다양한 애플리케이션에 유용합니다.
유해성분 분석법
| 유해 물질 | 예시 | |
| 스크리닝 분석 | 상세한 분석 | |
| Hg | X선 분광법 | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | X-ray spectroscopy(총 Cr 분석) | 이온 크로마토그래피 |
| PBB / PBDE | X-ray spectroscopy(총 Br 분석) | GC-MS |
품질경영 프로세스
Cr, Br, Cd, Hg 및 Pb와 같은 폴리에틸렌 샘플의 유해한 미량 원소 측정.
• 주어진 값과 Cr, Br, Cd, Hg 및 Pb의 실제 값의 차이.
주어진 값과 Cr의 실제 값의 차이, (단위: ppm)
| 견본 | 주어진 가치 | 실제 값(XD-8010) |
| 공백 | 0 | 0 |
| 샘플 1 | 97.3 | 97.4 |
| 샘플 2 | 288 | 309.8 |
| 샘플 3 | 1122 | 1107.6 |
주어진 값과 Br의 실제 값의 차이, (단위: ppm)
| 견본 | 주어진 가치 | 실제 값(XD-8010) |
| 공백 | 0 | 0 |
| 샘플 1 | 90 | 89.7 |
| 샘플 2 | 280 | 281.3 |
| 샘플 3 | 1116 | 1114.1 |
주어진 값과 실제 Cd 값의 차이, (단위: ppm)
| 견본 | 주어진 가치 | 실제 값(XD-8010) |
| 공백 | 0 | 0 |
| 샘플 1 | 8.7 | 9.8 |
| 샘플 2 | 26.7 | 23.8 |
| 샘플 3 | 107 | 107.5 |
주어진 값과 실제 값의 차이 og Hg, (단위: ppm)
| 견본 | 주어진 가치 | 실제 값(XD-8010) |
| 공백 | 0 | 0 |
| 샘플 1 | 91.5 | 87.5 |
| 샘플 2 | 271 | 283.5 |
| 샘플 3 | 1096 | 1089.5 |
주어진 값과 실제 Pb 값의 차이, (단위: ppm)
| 견본 | 주어진 가치 | 실제 값(XD-8010) |
| 공백 | 0 | 0 |
| 샘플 1 | 93.1 | 91.4 |
| 샘플 2 | 276 | 283.9 |
| 샘플 3 | 1122 | 1120.3 |
샘플 3의 반복 측정 데이터 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (단위: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128.7 | 1118.9 | 110.4 | 1079.5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119.5 | 110.8 | 1072.4 | 1131.8 |
| 3 | 1111.5 | 1115.5 | 115.8 | 1068.9 | 1099.5 |
| 4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
| 5 | 1115.6 | 1123.6 | 103.9 | 1080.7 | 1114.8 |
| 6 | 1136.6 | 1113.2 | 101.2 | 1068.8 | 1103.6 |
| 7 | 1129.5 | 1112.4 | 105.3 | 1079.0 | 1108.0 |
| 평균 | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076.5 | 1110.0 |
| 표준 편차 | 8.61 | 4.03 | 4.99 | 6.54 | 10.82 |
| RSD | 0.77% | 0.36% | 4.62% | 0.61% | 0.98% |
Pb 원소용 2차 필터(강재 모재 시료), 시료: 강(Pb 113ppm)
1. 1차 X선관에서 나오는 X선 방사선은 콜리메이터를 통해 시료에 조사됩니다.
2. 시료에 포함된 원소의 1차 엑스선 여기 특성 2차 콜리메이터를 통해 검출기로 들어가는 X선
3. 검출기를 통해 처리하여 형광 분광학 데이터를 형성합니다.
4. 컴퓨터 분광 데이터 분석, 정성 및 정량 분석 완료
| 모델 | NB-8010 | |
| 분석 원칙 | 에너지 분산형 X선 형광 분석 | |
| 요소 범위 | 에스 (16) | |
| 견본 | 플라스틱 / 금속 / 필름 / 솔리드 / 액체/분말 등 모든 크기 및 불규칙한 모양 | |
| X선관 | 표적 | Mo |
| 관 전압 | (5-50) kV | |
| 관 전류 | (10-1000) 및 기타 | |
| 시료 조사 지름 | F1mm-F7mm | |
| 필터 | 복합 필터 15세트는 자동으로 선택되고 자동 변환 | |
| 탐지기 | 미국에서 수입 Si-PIN 검출기 | |
| 데이터 처리 회로 기판 | 미국산 수입품, Si-PIN 검출기 세트 사용 | |
| 견본 관찰 | 30만 화소 CCD 카메라 탑재 | |
| 샘플 챔버 크기 | 490(L)´430(W)´150 (H) | |
| 분석 방법 | 선형 선형, 이차 코드 라인, 강도 및 농도 보정 보정 | |
| 운영 체제 소프트웨어 | 윈도우 XP, 윈도우 7 | |
| 자료 관리 | Excel 데이터 관리, 테스트 보고서, PDF / Excel 형식 저장됨 | |
| 일하고있는 환경 | 온도: £30°C. 습도 £70% | |
| 무게 | 55kg | |
| 치수 | 550´450´395 | |
| 전원 공급 장치 | AC220V±10%, 50/60Hz | |
| 결정 정황 | 대기 환경 | |