원자력 afm 현미경
AFM(Atomic Force Microscope)은 절연체를 포함한 고체 물질의 표면 구조를 연구하는 데 사용할 수 있는 분석 기기입니다.테스트할 시료의 표면과 미세 힘에 민감한 요소 사이의 극히 약한 원자간 상호 작용을 감지하여 물질의 표면 구조와 특성을 연구합니다.약한 힘의 한 쌍의 극도로 민감한 마이크로 캔틸레버 끝이 고정되고 작은 팁의 다른 쪽 끝이 샘플에 가까운 다음 상호 작용하여 힘이 마이크로 캔틸레버 변형 또는 이동 상태를 변경합니다.샘플을 스캔할 때 센서를 사용하여 이러한 변화를 감지할 수 있으며 힘 정보의 분포를 얻을 수 있으므로 나노 해상도 정보의 표면 형태와 표면 거칠기 정보를 얻을 수 있습니다.
★ 통합 스캐닝 프로브와 샘플 스태그는 간섭 방지 기능을 향상시켰습니다.
★ 정밀 레이저 및 프로브 위치 지정 장치로 프로브 교체 및 스팟 조정이 간단하고 편리합니다.
★ 시료 프로브 접근 방식을 사용하여 바늘이 시료 스캐닝에 수직이 될 수 있습니다.
★ 자동 펄스 모터 구동 제어 샘플 프로브 수직 접근, 스캐닝 영역의 정확한 위치 결정.
★ 고정밀 시료 모바일 장치의 디자인을 사용하여 시료 스캔 관심 영역을 자유롭게 이동할 수 있습니다.
★ 광학 포지셔닝이 있는 CCD 관찰 시스템은 프로브 샘플 스캔 영역의 실시간 관찰 및 위치 지정을 달성합니다.
★ 전자제어시스템의 모듈화 설계로 유지보수가 용이하고 회로의 지속적인 개선이 가능합니다.
★ 다중 스캐닝 모드 제어 회로의 통합은 소프트웨어 시스템과 협력합니다.
★ 심플하고 실용적인 스프링 서스펜션으로 간섭 방지 기능을 높였습니다.
| 작업 모드 | FM 태핑, 선택적 접촉, 마찰, 위상, 자기 또는 정전기 |
| 크기 | Φ≤90mm,H≤20mm |
| 스캐닝 범위 | 20mm 최소 XY 방향,Z 방향으로 2mm. |
| 스캐닝 해상도 | XY 방향으로 0.2nm,Z 방향으로 0.05nm |
| 샘플의 이동 범위 | ±6.5mm |
| 모터의 펄스 폭이 접근합니다. | 10±2ms |
| 이미지 샘플링 포인트 | 256×256,512×512 |
| 광학 배율 | 4X |
| 광학 해상도 | 2.5mm |
| 스캔 속도 | 0.6Hz~4.34Hz |
| 스캔 각도 | 0°~360° |
| 스캐닝 제어 | XY 방향의 18비트 D/A,Z 방향의 16비트 D/A |
| 데이터 샘플링 | 14비트 A/D,double16비트 A/D 다중 채널 동기 샘플링 |
| 피드백 | DSP 디지털 피드백 |
| 피드백 샘플링 속도 | 64.0KHz |
| 컴퓨터 인터페이스 | USB2.0 |
| 작동 환경 | Windows98/2000/XP/7/8 |